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多模环型通量（EF）现已被IEEE，TIA和IEC广泛接受为首选的用于多模模态标定的参数。Arden MPX环型通量（EF）测试仪是世界各地领先公司测试环通量首选的仪器。只需要将光源和跳线连接到MPX，它就会实现多模模态注入条件EF的自动测试。

nPA-400 是获取验证标准光纤和特种光纤折射率数据的快速、简便和低成本方法。

干净，高效的图形用户界面使用户能够以最少的培训或经验充分表征其光纤特性。nPA-400提供准确且可重复的折射率数据，提供有关光纤设计和制造工艺的宝贵信息。

nPA-400 折射率分析仪使用改进的折射近场技术来分析光纤的端视图灰度强度分布，以确定其完整的 2D 折射率分布。

VFI 是一种干涉检测系统，专为检查切割或抛光光纤的表面质量和平整度而设计。用户可以在 2D 和 3D 的各种不同视图中查看其光纤，从而让用户全面了解其切割或抛光过程。 VFI 干涉仪已在研究、生产和 QA 中一遍又一遍地证明了自己，我们从用户那里得到的反馈表明他们重视这些功能：

MPX模态测试仪是世界各地领先公司测试环形通量首选的仪器。只需将光源和跳线连接到MPX,它就会实时测量模态的注入条件。

FGC-G光纤几何测试系统提供了光纤端面几何形状的高速自动测量。它采用了在标准IEC-60793-1-20附录B中描述的基准测试法（RTM）: 视频灰度技术。

暗视野照明

FGC-P 光纤涂层几何系统是一种紧凑、可靠的解决方案，用于测量光纤涂层的几何特性，光纤涂层直径为 100 μm 至 260 μm。这种用户友好的全自动系统可快速、直接地测量光纤涂层几何参数，包括：涂层直径，涂层非圆度，涂层-包层同心度

ModCon 模式控制器是一款轻盈，小巧的模块，将修正你的LED 或VCSEL 光源，以提供可重复的符合环形通量规定的注入条件。

只需插上MODCON 到您的光源将会为您提供一个稳定和一致的符合IEC62180-4-1:2009 EF 的输出。

CMC-1550少模分析仪是为测量光纤结构复杂的少模光纤和空心光纤的各模态特性而设计的。

它由两个不同的单元-发射单元和接收单元组成，采用空间和光谱分辨成像(S2)技术来识别和表征光纤的单个模式，估计其模式相关的传播损耗，并评估其模式耦合效应。

CMC-1550 获得每种传播模式的差分群延迟 (DGD) 以及与最激发模式相比的相对强度（或多径干扰 (MPI)）。

它提供了对光纤内各个模式特性及其相互作用的全面了解，有助于重建被测光纤的传播模式轮廓和导模相位。