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VFI 是一种干涉检测系统，专为检查切割或抛光光纤的表面质量和平整度而设计。 用户可以在 2D 和 3D 的各种不同视图中查看其光纤，从而让用户全面了解其切割或抛光过程。 VFI 干涉仪已在研究、生产和 QA 中一遍又一遍地证明了自己，我们从用户那里得到的反馈表明他们重视这些功能：
