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LUNA公司的OVA5100是最快速、精确、高效的光矢量分析仪,可用千现代 光学设备和系统的损耗、偏振、色散等光学参数的分析与测试,包括光子集成电路(PIC)。
OBR4600是LUNA公司获奖产品背光反射计的最新型号。专用于器件和短期网络的测试及故障定位,OBR4600具有背光水平的灵敏度,从而获得超高分辨率。高达10微米的空间分辨率、零死区、集成温度和应力探测及加长模式,OBR4600提供了无可比拟的光纤测试能力。
Luna 6415光器件分析仪采用光频域反射技术(OFDR),通过探测背向瑞利散射光或者透射光获取其与距离的函数关系。Luna 6415作为光子集成电路和硅光芯片的理想分析仪,得益于其超高的灵敏度和空间分辨率(20μm)。Luna6415单台仪器通过选择反射或者透射模式就能完成IL、RL、长度等所有测试,大大降低了测试成本,同时简化了测试流程。相比其它测试系统,将大大增加测试产量。
即可本机操作,也可以远程操控,多个操作模式的全功能的全光纤偏振态控制器仪器。
PCD-104扰偏仪使用了全光纤技术,有效地打乱偏振态。PCD-104扰偏仪实现的消偏具有多种重要应用。对输入光进行扰偏可以消除测试中由于仪器的偏振敏感性带来的测量不准确性,及由于PDG引起的系统性能退化的情况。扰偏仪还可用来简化系统PMD监测。PCD-104具有*低的插入损耗、回反、和剩余相位和振幅调制等优越的性能。
ERM-202全波段消光比测试仪是一款单通道和双通道可选的消光比测量仪,可实现1260~1650nm全波段测量。可用于双路输出保偏器件的消光比和功率比测量,例如: Y分支光纤陀螺IOC,保偏耦合器(PMC),偏振分束器(PBS),同样也能评估消偏器的输出偏振度。