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产品:JGR MS12 插回损测试仪

MS12插回损测试仪是工业上应用最广泛的插入损耗和免缠绕回波损耗测量方案。为光缆组件和光学元件提供准确、可靠和可追踪的结果。            

MS12平台与光纤市场的领导者密切合作,为满足关键光纤测试需求而量身定制。内部监控功能可保持激光稳定性,以便进行可靠的插入损耗测试。内部回波损耗基准有

助于高精度的多模和单模回波损耗测量精度。多模MS12回波损耗表符合IEC-61280-4-1环型通量标准。

SM 1310, 1490, 1550 and 1625 nm

MM 850, 1300 nm

RL: SM 80 dB

RL: MM 50 dB

广域集成腔

光缆组件测试

带状光纤测试

多连接器类型的同时测试

单芯和多芯测试