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Luna 6415光器件分析仪采用光频域反射技术（OFDR），通过探测背向瑞利散射光或者透射光获取其与距离的函数关系。Luna 6415作为光子集成电路和硅光芯片的理想分析仪，得益于其超高的灵敏度和空间分辨率（20μm）。Luna6415单台仪器通过选择反射或者透射模式就能完成IL、RL、长度等所有测试，大大降低了测试成本，同时简化了测试流程。相比其它测试系统，将大大增加测试产量。
回损（RL）和插损（IL）分析
反射和透射模式分析器件
光路长度方向上的回损分布
RL和IL的光谱分析
探测和精准定位反射事件和测量光路长度（长达100米）
优化生产测试的速度、空间分辨率和精度：20μm采样分辨率
RL空间分布测试
IL自动测试和分析
延迟测量分辨率可达亚皮秒
PLCs、光波导器件、AWGs和ROADMs等测试
耦合器、光开关和分束器等测试
