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LUNA公司的OVA5100是最快速、精确、高效的光矢量分析仪，可用千现代 光学设备和系统的损耗、偏振、色散等光学参数的分析与测试，包括光子集成电路(PIC)。
单次测犀即可获取光器件的所有参数
3秒内完成器件特性测试
完整的偏振响应
单次扫描可同步测量：
－损耗(IL及RL)
－色散 (CD)
－群延时 (GD)
－偏振相关损耗(PDL)
－偏振模色散(PMD)和二阶PMD －光时域响应
－琼斯矩阵
－光学相位响应
实时测量
友好的用户界面
高分辨率C和L波段(OVA5100)或O波段(OVA5113)测试能力
平面光波导和硅光器件分析
光纤器件测昼
同时测量时域及频域响应
获得完整的光学传递函数， 可用于改进器件模拟和模型
